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    高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

    • 更新時間:  2021-03-15
    • 產品型號:  
    • 簡單描述
    • 原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;
      科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測
    詳細介紹

    高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

     

    項目

    細則

    收費

    說明

    Rocking Curve

    單一圖譜,30min 以內;若超 過 30min,延長時間按240元 /30min計,不足30min 按 30min計; 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀,厚 度≤1mm,直徑≤2cm

    240元/樣

    1.長時間數據手機(大于5h)、復雜樣品等特殊測試,價格需面議;

    2.原位測試需提供測試方法

    2Theta/Omega Scan

    對稱掃描單一圖譜,30min 以 內;掃描時間大于 30min,延 長時間按240元/30min,不足 30min 按 30min 計

    240元/樣

    2Theta/Omega Scan

    不對稱掃描單一圖譜,30min 以內;掃描時間大于 30min, 延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

    300元/樣

    Skew Scan

    不對稱掃描單一圖譜,30min 以內;掃描時間大于 30min, 延長時間按 240 元/30min計,不足 30min 按 30min 計

    300元/樣

    XRR

    單一圖譜,30min 以內;掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

    300元/樣

    GID

    單一圖譜,30min 以內;掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

    300元/樣

    Phi Scan

    Phi 掃描單一圖譜,30min 以 內;掃描時間大于30min,延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

    300元/樣

    RSM

    單點倒易空間 mapping 單一圖譜,30min 以內;掃描時間 大于 30min,延長時間按240元/30min計,不足30min 按 30min 計

    400元/樣

    低溫測試

    包含 2 個溫度點,第二點后, 240 元/ 測試點;低溫測試液氮另加30元/時

    900元/樣

    高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

    儀器功能特點:

    1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源,強度是封閉靶的5倍;

    2- 入射光路三光路自動切換系統:粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨;

    3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準直器后開展二維衍射實時分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統可實時檢測反應中結構的演變過程;

    4- 原位充放電、原位電化學附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過程。

    應用范圍:

    原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;

    科研支撐

    變溫物相分析

    變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析

    分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。

    產業支撐

    藥物作用機理及動力學分析、藥物理化性質及穩定性分析。

     


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